品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子 | 波長范圍 | 390~700 nm |
高效率熒光壽命成像系統(tǒng)
高效率熒光壽命成像系統(tǒng)或FLIM是基于熒光樣品中不同區(qū)域的熒光的指數(shù)衰減速率的差異。 由τ決定熒光壽命成像的每個(gè)像素的強(qiáng)度,這使研究 人員可以查看具有不同熒光衰減率的材料之間的對(duì)比度,還可以產(chǎn)生顯示其他衰減路徑變化的圖像。 可以通過使用脈沖源在時(shí)域中確定熒光壽命。 當(dāng)熒光物質(zhì)被超短脈沖激發(fā)時(shí),時(shí)間分辨的熒光將呈指數(shù)衰減。 時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)(tcspc)通常被用作熒光壽命的測(cè)量方法,因?yàn)樗a(bǔ)償了在源強(qiáng)度和單光子的脈沖幅度的變化。 更具體地說,TCSPC由單個(gè)光子雪崩光電二極管 (SPAD)記錄相對(duì)于激發(fā)激光脈沖的單個(gè)光子的壽命。 重復(fù)記錄多個(gè)激光脈沖,并在記錄了足夠多的事件后,研究人員能夠建立所有這些記錄的時(shí)間點(diǎn)上事件數(shù)量的直方圖。 然后,可以將該直方圖擬合到的指數(shù)壽命衰減函數(shù)的指數(shù)函數(shù),并且可以相應(yīng)地提取壽命參數(shù)。 Xper-FLIM配備了單光子雪崩二極管檢測(cè)系統(tǒng),可以提供低成本檢測(cè)通道選項(xiàng),從而為FLIM研究人員實(shí)現(xiàn)超 快速分析。 Xper-FLIM也可用于倒置顯微鏡或正置顯微鏡,滿足其他應(yīng)用需求。
應(yīng)用領(lǐng)域:
熒光壽命成像的原理:
測(cè)試案例:
規(guī)格參數(shù):
顯微鏡 | - -反射LED照明器,用于明場(chǎng) - -帶有右手控制的機(jī)械X-Y載物臺(tái) - -自動(dòng)控制的Z軸位置 - -包括主機(jī)架,平臺(tái)板,控制箱,接口電纜,電源線 - -40倍物鏡(其他選項(xiàng):10倍,20倍,50倍和100倍) - -正置或倒置顯微鏡 |
掃描模塊 | - -波長范圍:400~1000 nm - -激光掃描模式:壓電掃描 - -掃描范圍:200μm×200μm(使用40倍物鏡時(shí)) - -包括用于光學(xué)圖像采集的15 MP攝像頭(使用40X時(shí),F(xiàn)OV:220μm×150μm) - -包含一個(gè)控制器(USB1.1) - -掃描速度:> 100行/秒 |
光源 | 皮秒脈沖二極管激光器和驅(qū)動(dòng)器 -波長:390~700 nm -自由空間/光纖耦合選擇(可選) |
濾波片 | 選擇與激光波長相對(duì)應(yīng)的濾光片 - -波長范圍:390~700 nm - -可在濾光鏡盒中互換用于相應(yīng)的激光器 |
機(jī)身 | - -1個(gè)插槽,用于連接激光中性密度(ND)濾鏡或偏振鏡 - -2個(gè)用于連接偏振片或波片的插槽 - -1個(gè)插槽,用于連接可互換的濾波片套件 - -具有三個(gè)激光器空位。 - -可安裝光纖耦合端口。 - -提供穩(wěn)定的光束對(duì)準(zhǔn)平臺(tái) |
探測(cè)器 | 光子檢測(cè)效率 - 24 % at 400 nm - 49 % at 550 nm - 37 % at 650 nm - 有效區(qū)域直徑:50μm - 暗計(jì)數(shù):<250,<100,<50,<25 cps(取 決于探測(cè)器的等級(jí)) -NIM定時(shí)輸出:50 ps - 脈沖后可能性:<3% |
光源驅(qū)動(dòng) | -重復(fù)頻率:31.25 kHz~80 MHz -觸發(fā):-1至+1 V電平(可調(diào)) -頻率范圍:10 Hz~80 MHz -同步輸出:幅度<0.8 mV到50歐姆 |
計(jì)數(shù)器 | 計(jì)時(shí)電路 - -檢測(cè)通道:1或2 - -時(shí)間范圍:25 ps - -觸發(fā):0~-1200 mV - -計(jì)數(shù)率:40 MHz - -標(biāo)記:TTL x4 |
軟件 | - -熒光壽命采集和成像 - -頻譜數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式:.txt,.csv - -2D映射數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式:.spm,.csv |