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通訊領(lǐng)域光束分析儀

簡要描述:通訊領(lǐng)域光束分析儀主要用于測量850nm,1310nm和1550nm等通訊波長的激光光束的光斑大小、橢圓度、能量分布、發(fā)散角、功率以及指向穩(wěn)定性等,實(shí)時(shí)監(jiān)測光束形狀以及變化。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2021-06-02
  • 訪  問  量:3172
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通訊領(lǐng)域光束分析儀

為了滿足通訊領(lǐng)域中廣大客戶的需求,并提高客戶的工作效率和降低客戶的生產(chǎn)成本,德國著名光束分析儀廠商Cinogy公司設(shè)計(jì)生產(chǎn)了專門用于通訊領(lǐng)域的CinAlign光束分析儀和近場光束分析儀,主要用于測量850nm,1310nm和1550nm等通訊波長的激光光束的光斑大小、橢圓度、能量分布、發(fā)散角、功率以及指向穩(wěn)定性等,實(shí)時(shí)監(jiān)測光束形狀以及變化。

 

 

關(guān)鍵詞:光束分析儀,近場光束分析儀,聚焦光束測量儀,聚焦光輪廓分析儀,通訊領(lǐng)域光束分析儀,光束質(zhì)量分析儀,實(shí)時(shí)準(zhǔn)直系統(tǒng),實(shí)時(shí)光斑準(zhǔn)直測量系統(tǒng)

 

 

 

 

一、   CinAlign光束分析儀 – 用于測量準(zhǔn)直或者較大光斑的激光光束

 

德國CINOGY公司為通訊領(lǐng)域客戶專門設(shè)計(jì)生產(chǎn)的CinAlign光束分析儀,主要是用于測量準(zhǔn)直的或者較大光斑的激光光束的光斑大小、橢圓度、能量分布、發(fā)散角、功率以及指向穩(wěn)定性等。CinAlign主要分為CinCam CMOS-1202和CinCam CMOS-1201-IR兩種相機(jī),基本涵蓋了所有通訊波長,其響應(yīng)波長范圍為320~1610nm,主要用于測量850nm、1310nm和1550nm等通訊波長的激光器。CinAlign測量的激光光斑范圍為52um~4mm,兼容測量連續(xù)以及脈沖激光器。

 

 

特點(diǎn):

 

1.  測量的波長范圍:400~1610nm

2.  測量的光斑大?。?2um~4mm

3.  實(shí)時(shí)監(jiān)控光斑形狀以及變化

4.  分辨率高,高準(zhǔn)確度

5.  測量激光光束的光斑大小、橢圓度、能量分布、發(fā)散角、功率以及指向穩(wěn)定性等

 

主要技術(shù)指標(biāo):

 

 

相機(jī)型號

Cin

am CMOS-1202

CinCam CMOS-1201-IR

規(guī)格

1/1.8’’

1/2’’

通光孔徑

6.8mm x 5.4mm

6.7mm x 5.3mm

分辨率

1280x 1024

1280x 1024

像素大小

5.3um x 5.3um

5.2um x 5.2um

波長范圍

400~1350nm

1470~1610nm

位深

8Bit

8Bit

動態(tài)范圍

>62dB

>61dB

接口

USB2.0

USB2.0

模式

連續(xù)和脈沖

連續(xù)

尺寸(HxL)

40mm x 40mm x 20mm

40mm x 40mm x 20mm

分析軟件

RayCi-Lite/Standard/Pro

 

 

主要軟件視圖:

(詳細(xì)可參考RayCi分析軟件介紹)

 

1.  光斑/橢圓度的測量

 

 

2.  光束參數(shù)/能量分布

 

 

3.  發(fā)散角的測量

 

 

 

二、   近場光束分析儀 – 用于測量近場/聚焦激光光束

 

德國CINOGY公司為通訊領(lǐng)域客戶專門設(shè)計(jì)生產(chǎn)的近場光束分析儀,主要是用于測量近場/聚焦光束的焦點(diǎn)光斑大小、焦距、發(fā)散角、功率以及指向穩(wěn)定性等。該系統(tǒng)集成了CinCam CMOS光束分析儀,確保了測量的準(zhǔn)確性。測量波長范圍為320~1610nm,基本涵蓋了所有通訊波長,一般主要用于測量850nm、1310nm和1550nm等通訊波長。近場光束分析儀系統(tǒng)主要由顯微鏡和CinCam CMOS光束分析儀組成,其可測量的聚焦的光斑zui小可達(dá)1.1um。另外,該系統(tǒng)為一個開放式光束分析儀系統(tǒng),其中的CinCam CMOS光束分析儀可取下使用,用于測量準(zhǔn)直的或者較大光斑的光束(zui大測量光斑為4mm)。

 

特點(diǎn):

1.  測量的波長范圍:320~1610nm

2.  測量的光斑大?。?.1um~4mm

3.  實(shí)時(shí)監(jiān)控光斑形狀以及變化

4.  分辨率高,高準(zhǔn)確度

5.  測量焦點(diǎn)位置的光斑大小、發(fā)散角、功率以及指向穩(wěn)定性等

 

 

技術(shù)指標(biāo):

 

 

規(guī)格

10x System

20x System

40x System

波長范圍

320~1350nm,1470~1610nm

工作距離(mm)

10

3.3

0.6

焦距(mm)

15.26

8.55

4.39

可替換的衰減片

OD1.0~OD5.0

光學(xué)分辨率(um)

1.5

1.2

1

光斑大小(um):

CMOS1201

CMOS1202

CMOS1203

~5.2-267

~5.3-272

~4.5-270

~2.6-134

~2.6-136

~2.3-135

~1.3-67

~1.3-68

~1.1-67

視場(um):

CMOS 1201

CMOS 1202

CMOS 1203

666 x 533

678 x 543

720 x 540

333 x 267

339 x 272

360 x 270

167 x 134

170 x 136

180 x 135

zui大輸入功率

100mW

分析軟件

RayCi-Lite/Standard/Pro

 

主要軟件視圖:

(詳細(xì)可參考RayCi分析軟件介紹)

 

 

1.  焦點(diǎn)位置的光斑/功率/指向穩(wěn)定性的測量

 

 

2.  發(fā)散角的測量

  

主要配件:

1    衰減片和衰減器

2    縮束鏡

手動/自動導(dǎo)軌

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