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如何使用Phasics SID4相位成像相機進行表面測量?

更新時間:2022-07-13 點擊次數(shù):1381

使用Phasics SID4相位成像相機進行表面測量


Phasics SID4相位成像相機,可以集成在商業(yè)或者自制的光學顯微鏡裝置上。為了提高樣品的整體性能,測量物體表面特性是一種有效的方法。對于此類應用,Phasics的軟件可以分析光程差,并且實時轉(zhuǎn)化為物體表面的形貌。硬件方面,Phasics相機體積小、結(jié)構(gòu)緊湊,并且易于使用。事實上,Phasics的波前分析儀能夠與實驗室常用的相機一樣易于集成。整個相機可以輕松集成到生產(chǎn)線或者實驗室中。


表面測量結(jié)構(gòu)

地表測量.jpgPhasic SID4相位相機利用的是一種四波橫向剪切技術(shù),將入射光分成剪切的4束,然后再互相干涉形成干涉圖,通過傅立葉逆變換可以得到入射光的相位譜和強度信息,這是一種消色差的技術(shù),因此白光和LED光源非常適合。此外,可以使用任何顯微鏡進行測量,并且不依賴于偏振。如上圖光路所示,SID4相機位于被測物體的成像面進行探測,使用簡單。SID4相位成像相機可以集成在商業(yè)反射顯微鏡或?qū)S霉鈱W系統(tǒng)上。



SID 和 AFM 測量比較

地表測量2.jpg


圖中紅線部分是Phasics測量結(jié)果,黑線位AFM測量結(jié)果。

使用AFM測量表面缺陷,和使用SID4相位成像相機一次測量成型的結(jié)果對比。


SID4 與 光學輪廓測量儀 對比

用SID4 HR定量測量,以及白光光學輪廓儀測量結(jié)果的對比。兩個報告中,第一個側(cè)重于輪廓,第二個側(cè)重于深度測量。



測量結(jié)果




Phasics是一家專門從事相位測量的法國公司。Phasics向其客戶提供全系列的產(chǎn)品,所有這些都是基于*的技術(shù),即四波側(cè)向剪切干涉技術(shù)。Phasics公司的專長在于對這項技術(shù)的深刻理解,以及將其應用于從激光和光學計量到生物樣品成像等多個領域的能力。對于每一個領域,Phasics都提供了專門的硬件和軟件的解決方案。在生物學方面,Phasics提供了SID4Bio,這是一種*的用于活細胞成像的設備,依賴于定量相位成像。


SID4Bio是一個類似照相機的相位相機,用于活細胞成像?;?的相位技術(shù),它提供了一個巨大的對比度增強,能夠?qū)罴毎M行無標簽觀察,從而使長時間的延時采集成為可能。此外,由于獲得的圖像是對標本引入的局部相移的測量,它們提供了關(guān)于標本的定量信息。值得注意的是,它們能夠檢索出標本的干質(zhì)量。這些數(shù)據(jù)也可用于研究各種生物現(xiàn)象,如細胞生長或細胞遷移。


上海昊量光電設備有限公司作為Phasics在中國地區(qū)的核心代理商,致力于為國內(nèi)的工業(yè)和科研用戶提供技術(shù)解決方案。對于Phasics相位相機有興趣或者任何問題,都歡迎通過電話、電子郵件或者微信與我們聯(lián)系。 

 

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